島嶼狀晶粒是低倍組織局部不均勻性的又一種形式，在模鍛件的低倍組織試片上，島嶼狀晶粒常常以個別晶粒或幾組晶粒的形式存在，明顯大于基體背景晶粒（不小于3~4個標準評級圖等級）（見圖4-29).這種粗晶粒通常由若干塊組成，并且由一組較小晶粒組成，這些較小晶粒由于對比度差別不顯著，因此很難區分。粗化的合成晶粒的形狀是不確定的。按照基色，它們與基體背景實際上可能沒有區別。

研究結果表明：上述這些特殊的組織，包括逆向的區域不均勻性、帶狀組織、島嶼狀不同晶粒度等具有相同的本質。它們的共同特點是在細小晶粒背景上存在著反常粗大的晶粒。這一現象的基本原因是因為劇烈變形形成了明顯的變形織構，造成再結晶現象可能被阻滯。會使得因織構造成的晶體學位向接近的個別晶粒發生再結晶而形成大晶粒。這種合成的晶粒的形狀和尺寸取決于金屬具有接近晶體學位向的區域的形狀和大小。因此，帶狀組織、島嶼狀大晶粒度通常具有扁平盤狀或接近盤狀的形態。

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